{"error":{"code":502,"message":"Bad gateway.","param":null,"type":"cf_bad_gateway"}}

معلومات اساسية

• متاح على:
• العربية
• English

تم تصميم نظام AOI خصيصًا للفحص المتزامن للوحات الدوائر المطبوعة على الجانبين العلوي والسفلي. ويتميز بوحدتي مسح مضاءتين بمصابيح LED متعددة توفر رؤية خالية من اختلاف المنظر. تتوفر هذه الأنظمة لعمليات الفحص من جانب واحد أيضًا، مما يوفر خيار عمليات الفحص من الأعلى أو الأسفل. يأتي النظام مع مجموعة كاملة من وحدات التحكم في الوضع، مما يضمن التحكم الفعال والشامل في عملية الفحص. يبلغ طول وحدة النقل الخاصة بالنظام 1200 ملم (47.2 بوصة)، مما يسمح بفحص مركبات ثنائي الفينيل متعدد الكلور ذات الحجم الأكبر.

الخصائص الرئيسية:
- نظام مزدوج للفحص المتزامن لوجهي لوحات الدوائر المطبوعة.
- عرض كافة نتائج الفحص من الجهتين في وقت واحد.
- قادر على فحص المكونات المختلفة، بما في ذلك وضع SMD، ومفاصل لحام THT، والطلاء المطابق، والفحص الكامل لخرزات اللحام.
- قادر على التقاط رموز شريطية متعددة ورموز مصفوفة البيانات على لوحة PCB المتعددة.
- نطاق مسح مرن يبلغ 420 × 530 مم أو 300 × 400 مم ليناسب أحجام اللوحات المختلفة.