Sonelastic HZ" translates to "Sonelastic HZ" in German as it is a proper noun and does not have a specific German translation.

Grundinformation

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Produktbeschreibung:

Das Wafer-Messsystem ist eine hochmoderne Lösung, die speziell für die Wafer-Industrie entwickelt wurde. Es bietet eine Reihe leistungsstarker Funktionen und Fähigkeiten, um genaue und präzise Messungen sicherzustellen.

Hier sind die Hauptmerkmale des Wafer-Messsystems:

1. Messtechnik: Verwendet einen berührungslosen Koaxial-Laser-Wegsensor vom Wegmesstyp für präzise Messungen.

2. Gantry-Bewegungsmechanismus: Ausgestattet mit einem hochpräzisen Linearmotor-Gantry-Bewegungsmechanismus, der reibungslose und genaue Bewegungen während der Messungen gewährleistet.

3. Kompatibilität: Entwickelt, um sowohl polierte als auch unpolierte, transparente und nicht transparente Wafer zu messen, wodurch es für verschiedene Anwendungen vielseitig einsetzbar ist.

4. Wafergrößenkompatibilität: Unterstützt Waferproben mit einem Durchmesser von 1 bis 8 Zoll, mit der Option, die Kapazität auf größere Produkte mit 300 mm (12 Zoll) zu erweitern.

5. Verbesserte Stabilität: Enthält ein koplanares, luftschwebendes, mobiles Lagersystem, das sicherstellt, dass sich die Waferprobe mit außergewöhnlicher Ebenheit und Sanftheit bewegt und mögliche Störungen minimiert.

6. Messbereich: Kann die Dicke eines Wafers im Bereich von 10 Mikrometern bis 20 Millimetern messen und ist für einen breiten Bereich an Waferdicken geeignet.

7. Maximale Scangeschwindigkeit: Bietet eine schnelle Scangeschwindigkeit von bis zu 1 Mikrometer pro Sekunde und ermöglicht so effiziente und zeitsparende Messungen.

8. Messparameter: Bietet umfassende Messparameter, einschließlich Dicke, Gesamtdickenschwankung (TTV), lokale Dickenschwankung (LTV), Gesamtindikatorwert (TIR), Sori, Konizität, Biegung und Warp. Bei diesen Messungen werden die Industriestandards eingehalten.

Das Wafer-Messsystem ist ein unverzichtbares Werkzeug für die Wafer-Industrie und ermöglicht präzise und genaue Messungen verschiedener Wafer-Eigenschaften. Ob für Forschung und Entwicklung oder zur Qualitätskontrolle, dieses System bietet Zuverlässigkeit, Vielseitigkeit und Effizienz bei Wafermessungen.