Avaliação Eletrônica - EIB 700

Categoria

• Instrumentação >> Ferramenta de medição e calibração >> Bens >> Dispositifs d'affichage numérique
• Instrumentação >> Ferramenta de medição e calibração >> Bens >> Machines à mesurer tridimensionnelles

Descrição

• Disponível em:
• Português
• English

Apresentando nosso sistema de medição de wafer de última geração, projetado especificamente para a indústria de wafer. Este sistema revolucionário está equipado com um sensor de deslocamento a laser coaxial sem contato do tipo deslocamento que garante medições altamente precisas. O sistema possui um robusto mecanismo de movimento de pórtico de motor linear de alta precisão, garantindo movimentos precisos e suaves. Uma das características de destaque do nosso Sistema de Medição de Wafer é sua compatibilidade com wafers polidos e não polidos, transparentes e não transparentes. Ele pode medir facilmente amostras de wafer que variam de 1 a 8 polegadas (que podem ser estendidas para 300 mm ou 12 polegadas). Para manter planicidade e suavidade excepcionais, incorporamos um rolamento móvel flutuante coplanar, permitindo que a amostra se mova com a máxima precisão. O sistema pode medir espessuras de wafer que variam de 10um a 20mm. Com uma velocidade máxima de digitalização de 1m002Fs, nosso sistema de medição de wafer oferece medições rápidas e eficientes. Ele foi projetado especificamente para atender vários parâmetros e padrões de medição, como espessura, TTV, LTV, TIR, Sori, Taper, Bow e Warp. Invista hoje em nosso avançado sistema de medição de wafer e eleve seus processos de medição de wafer a níveis sem precedentes de precisão e eficiência.